La MSP, Maîtrise Statistique des Procédés
ou SPC (Statistical Process Control) a pour objectif de surveiller,
par des méthodes statistiques, le processus ou procédé
de fabrication.
Le procédé est soumis à un certain nombre
de facteurs qu'on regroupe usuellement sous la dénomination
des 5 M: Matières, Matériel, Méthodes, Milieu,
Main-d'uvre.
Le produit fabriqué n'est jamais identique car soumis aux
5 M. On distingue deux catégories de variation: les causes
aléatoires et les causes assignables.
L'objectif de la MSP est donc de se débarrasser des causes
assignables et de réduire les causes aléatoires.
L'outil utilisé est la carte de contrôle.
* Le principe de la carte de contrôle de Shewhart
A intervalles réguliers, on prélève dans
la production des échantillons de taille fixe. La tendance
centrale et la dispersion de ces échantillons sont reportées
sur des cartes prédéfinies (cartes de contrôle)
où l'on examine la proximité des points par rapport
à des cibles. Si de la succession de ces points émerge
une structure non aléatoire, ou si un point se trouve à
l'extérieur de lignes prédéfinies, on considère
que le processus est hors contrôle et qu'une action corrective
doit être menée.
* L'efficacité d'une carte de contrôle
Elle est traduite soit par la courbe d'efficacité du
test associé, soit par la POM, Période Opérationnelle
Moyenne (ARL Average Run Length)
POM = nombre moyen d'échantillons prélevés
pour détecter un déréglége d
Pour d = 0, POM0
= 1/a Û
le procédé est arrêté à tort,
en moyenne tous les 1/a échantillons
Pour d ¹
0, POM1 = 1/(1-b)
Û il faut attendre en moyenne
1/(1-b) échantillons pour s'apercevoir
du déréglage
* Les différentes cartes de contrôle
- Cartes de type Shewhart:
Caractère quantitatif: cartes
de contrôle par mesures de la moyenne, de la médiane,
de l'étendue, de l'écart-type.
Caractère qualitatif: cartes
de contrôle par attributs du pourcentage de non-conformes,
du nombre d'unités non-conformes, du nombre de non-conformités,
du nombre moyen de non-conformités par unité, aux
démérites
- Cartes tenant compte du passé: Cartes à somme
cumulée (CUSUM, Cumulative Sum) et carte à moyenne
mobile avec pondération exponentielle (EWMA, Exponentially
Weighted Moving Average)
* Etapes de la mise en uvre des cartes
- Choix des caractéristiques à suivre
- Choix du type de contrôle (par mesures ou par attributs)
- Choix du type de carte (en fonction de la rapidité du
déréglage)
- Choix de l'échantillonnage (détermination de l'effectif
et de la fréquence d'échantillonnage)
- Étude préliminaire du processus (détermination
des paramètres de la caractéristique suivie)
- Établissement des règles de décision
2) Cartes de contrôle par mesures
2.1) Cartes de contrôle de la stabilité (Shewhart)
L'objectif est d'assurer la constance de la tendance centrale et de la dispersion de la caractéristique X. Dans ce contexte les tolérances auxquelles pourrait être assujettie X n'interviennent pas.
X = caractéristique suivie : X ~> N(m0,s0)
T = statistique contrôlée
|
Limites de contrôle: LC
= mT ± 3 sT Limites de surveillance: LS = mT ± 2 sT |
|
coefficients (accès réservé) |
F |
Remarque: Les cartes de Shewhart sont déterminées de telle sorte que seul a (ou POM0) soit pris en compte ( a = 0,27% pour la carte de la moyenne, a < 1% pour les autres). La taille d'échantillon est alors arbitraire. Cependant, il est possible de fixer la taille de l'échantillon en fonction d'une valeur de b (ou POM1) pour un certain déréglage d.
* Estimation de m0 et s0
Celles-ci doivent toujours être effectuées dans une étude préliminaire où les conditions de fabrication seront particulièrement surveillées afin d'éviter toute cause assignable.
Remarque: l'estimation précédente est
celle préconisée par L'AFNOR. Certains logiciels
estime s0
parpour la carte de l'écart-type.
Lorsque les calculs sont faits manuellement, il est préférable
d'utiliser des cartes de la médiane et de l'étendue;
dans ce cas m0 est estimé par la
moyenne des médianes et s0 pa
.
|
- Carte de la moyenne
Le déréglage concerne la moyenne qui passe de m0 à m0 + d s0 a = 0,27% et POM0 = 370 b dépend du déréglage d = |m-m0|/s0 et de n |
|
|
- Carte de l'écart-type et de l'étendue Le déréglage concerne l'écart-type qui passe de s0 à rs0 a > 1% (dépend de n) et POM0 > 100 b dépend du déréglage r = s/s0 et de n |
|
2.1) Cartes de contrôle de la stabilité en présence d'une cible
La variable surveillée est souvent astreinte à
viser une cible. Dans ces conditions l'objectif est que la moyenne
m0 de la caractéristique
suivie X se situe sur la cible. Il n'est pas nécessaire
d'estimer m0 et
les limites de contrôle de la moyenne sont définies
par [cible - 3s0
/; cible + 3s0 /
]. De même
le déréglage est défini par d
= |m-cible|/s0
2.2) Cartes de contrôle dont l'objectif est d'assurer la conformité aux tolérances
Il existe des tolérances à respecter. La carte
est construite en fonction d'une proportion de défectueux
à ne pas dépasser; pour deux tolérances,
cette proportion est fixée arbitrairement à 0,27%
(0,135% pour une seule tolérance). Ceci conduit à
un déréglage maximum admissible .
En général une cible est fixée et m0 représente donc cette cible; dans le
cas contraire, m0 est une estimation de
m0. La taille
de l'échantillon est alors définie à partir
d'une valeur de b pour ce déréglage
d.
|
Tables et abaques d'efficacité
de la carte de la moyenne (accès réservé) |
F |
3) Cartes de contrôle par attributs
* Détermination des limites
K = nombre de non-conformes : K ~> B(n,p0)
(Binômiale)
K = nombre de non-conformités : K ~> P(c0) (Poisson)
Les lois de F = K/n proportion de non-conformes
ou nombre de non-conformités par unité s'en déduisent
| CARTE | Limites de contrôle LC | Taille d'échantillon n |
|
np nombre de non-conformes |
|
constante |
|
p proportion de non-conformes |
|
ni variable
|
|
c nombre de non-conformités par échantillon |
|
constante |
|
u nombre de non-conformités par unité de production |
|
ni variable
|
Remarque:
les limites de contrôle des cartes "p" et "u"
sont variables en fonction de la taille d'échantillon.
Pour pallier à cet inconvénient, dans la mesure
où les variations de ni ne sont pas trop variables (), on construit la carte de contrôle
à partir d'une taille d'échantillon unique égale
à la moyenne des tailles d'échantillons.
* Estimation de p0 et u0
p0 est estimé par la proportion de non-conformes
sur r échantillons de taille ni
u0
est estimé par le nombre moyen de non-conformités
par unité sur r échantillons de taille ni
Dans tous les cas on conseille au
moins 300 observations au total.
|
- Cartes "p" et "np" - Cartes "c" et "u" |
|
Nous considérons le cas où
la caractéristique suivie est quantitative de loi normale.
Dispersion naturelle du procédé : D = 6s
( D contient 99,73% des observations)
Intervalle de tolérance : IT = TS - TI
|
|
|
L'indice C convient pour des procédés centrés, alors que l'indice Ck est utilisé pour des procédés non centrés. Il est utile cependant de calculer les deux , leur comparaison permettant justement d'apprécier le décalage par rapport au centrage.
On distingue la capabilité propre à la machine Cm et Cmk et la capabilité procédé Cp et Cpk faisant intervenir l'ensemble des variations dues aux 5 M. La différence dans les calculs provient de l'estimation de la dispersion s: si pour la dispersion de la machine ou dispersion instantanée, sg pour la dispersion du procédé ou dispersion globale.
Remarque 1: sg peut aussi être obtenu à partir d'une centaine d'observations prélevées aléatoirement sur la production d'un lot ou celle d'une semaine (contrôle de réception)
Remarque 2: Si on a une production rapide, si peut aussi être estimé à partir d'une cinquantaine de mesures consécutives (à condition que le processus soit stabilisé pendant le prélèvement)
Remarque 3: La norme AFNOR parle de capabilité machine Cm pour le court terme et de capabilité procédé Cp pour le long terme. La norme ISO/TS 16949 parle de capabilité procédé Cp pour le court terme et de performance du procédé Pp pour le long terme.
Remarque 4: On considère qu'un procédé est capable si la capabilité court terme est supérieure à 1,67 et si la capabilité long terme est supérieure à 1,33 (ces valeurs complétement arbitraires se sont imposées depuis les années 80; certaines industries plus exigeantes estiment qu'un procédé sera capable pour une valeur supérieure à 2)
Comme la carte EWMA, la carte CUSUM est mieux adaptée que la carte de Shewhart pour déceler les petites déviations, ainsi que pour des échantillons de taille 1. La carte CUSUM peut être interprétée à partir d'un "masque en V", ce qui n'est guère très pratique, ou à partir de lignes de contrôle horizontales comme présenté ci-dessous:
| Les limites de contrôle sont définies par |
|
| On reporte sur la carte les points |
|
|
|
| MOYENNE | PROPORTION de non conformes | NOMBRE de non-conformités | |
|
m0 = valeur cible de la moyenne
|
p0 = valeur cible de la proportion
|
c0 = valeur cible du nombre moyen de non-conformités
par échantillon c1 = moyenne refusable de non- conformités par échantillon |
|
| zi |
|
|
|
| d |
min |
|
|
|
(accès réservé) |
F |
Remarque 1: Pour la carte de la moyenne, il est possible
d'estimer
- la date du déréglage par le dernier passage à
0 de ou
avant
déréglage
- l'amplitude du déréglage par
ou
avec r = nombre d'échantillons entre le dernier passage
à 0 et le déréglage (les extrêmes étant
comptés)
et ou
= valeurs
atteintes au moment du déréglage.
Remarque 2: Pour les cartes de la proportion de non-conformes
et du nombre de non-conformités, on peut utiliser les mêmes
coefficients que ceux de la moyenne à condition que np0 > 5 ou m0 > 5.
Les limites de contrôle ne sont pas horizontales mais tendent très rapidement vers leurs asymptotes qui sont définies dans le tableau ci-dessous.
On reporte sur la carte les points zi
l est une constante![]()
L est une valeur proche de 3 pour ne pas avoir trop de fausses
alarmes
| MOYENNE | PROPORTION de non conformes | NOMBRE de non-conformités | |
|
z0 au départ et après chaque réglage |
m0 = valeur cible de la moyenne m1, m1' = valeur refusable supérieure et inférieure de la moyenne |
p0 = valeur cible de la proportion
|
c0 = valeur cible du nombre moyen de non-conformités
par échantillon c1 = moyenne refusable de non- conformités par échantillon |
| zi |
|
|
|
| LC |
|
|
|
| d |
min |
|
|
|
(accès réservé) |
F |